OEM供給可能

256PIN〜2048PIN

MICRO OHM TESTER は自社開発の高精度微小抵抗検査器で、5.00μΩ〜15.000ｍΩの範囲の抵抗を
高精度に測定でき、最低レンジの分解能はLSB=１０ｎΩに達しています。
本機には、膜厚換算機能（膜厚演算機能）が搭載されており、専用の高性能検査プローブを使用して抵抗値
を測定し、プリント基板などの圧延銅膜厚・ハーフエッチング後の銅膜厚、その他メッキなどの金属薄膜など
膜厚値に換算できます。

４W−ｍΩ/OPEN/LEAK（SHORT）TESTERは、プリント基板の導通・絶縁（短絡）・４端子低抵抗検査を持ち、
高精度に測定・検査できる超小型の検査器です。
TRYSYSTEM独自の理論で自社開発を行うことにより、４端子低抵抗検査の分解能は標準でLSB=１ｍΩ、
オプションでLSB=１０μΩ、の超低抵抗検査を実現しています。
そのほか、ダイオード検査機能なども用意し、プリント基板からハーネスの検査まで幅広くご利用して頂けます。

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本器は、基板の銅パターンや金属薄膜、延銅などの厚みを測定することができる微小低抵抗測定器です。
■ 膜厚換算値（表示値）
　　1.00〜99.99μm
* 圧延銅箔の場合、換算抵抗値範囲
　　約45.0〜4500μΩ

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トライシステムズは、４端子抵抗検査を得意とするOPEN/LEAK/mΩ検査機能を
持ったプリント基板検査器や、ハーフエッチング後の銅膜厚を測定する膜厚測定器、
各種薬液センサー類、ファンクション検査機器、その他測定・検査器機の開発・設計・
製造及び販売を行っています。　またTRYSYSTEMSの自社開発製品を、相手先
ブランド（販売先ブランド）で製作するOEM供給に応じています。